X-Strata920表面鍍層測厚儀
是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
功能特性：
成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
可完成至多4層鍍層（另加底材）和25個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號）到鈾（92號）各元素
測厚行業(yè)35年知識和經(jīng)驗的積淀
元素范圍 Ti22 to U92
鍍層和元素數(shù)量 4 層鍍層 + 底材可同時分析至多25種元素
X-ray激發(fā) 50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型鎢靶X射線管
X-ray探測器 封氣（氙氣）正比計數(shù)器
準(zhǔn)直器 單準(zhǔn)直器或多準(zhǔn)直器（最多6個） ，圓形、正方形和矩形可選
二次濾波器 可配置至多3個濾波器（V、Co和Ni）用于重疊X射線波譜校正
數(shù)字信號處理器 4096多通道數(shù)字分析器 自動信號處理，帶死時間修正及防脈沖累積功能
軟件 SmartLink
FP語言：英語、中文（簡體和繁體）、法語、德語、西班牙語、日語、韓語、
意大利語、捷克語和俄語
計算機 CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz
硬盤： 500Gb，內(nèi)存：2Gb
DVDRW
操作系統(tǒng)：Microsoft WindowsTM
注：由于計算機系統(tǒng)更新快速，實際配置等同或優(yōu)于上述規(guī)格
電源 85~130 或 215~265 伏特，頻率范圍47Hz到63Hz
工作環(huán)境 10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相對濕度98%，無冷凝
可選配置 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺（最大樣品高度 33mm / 1.3”）
加深式樣品臺（最大樣品高度 160mm / 6.3”）
XY 程控樣品臺（樣品臺移動行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）
各樣品臺Z向移動行程：43mm (1.7”)
均為開槽式樣品臺
尺寸（寬 x 長 x 高） 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")
加深式樣品臺：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")
XY 程控樣品臺：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)
注：以上尺寸均不包含計算機和顯示器
重量 97kg（不包含計算機和顯示器）
應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
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