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符合抗干擾性規范的檢測
作者:  日期:2017-04-19  瀏覽次數:1777次  來(lái)源:
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       在使用相同儀器的基礎上,在強載波或脈沖干擾下,怎樣簡(jiǎn)化實(shí)驗步驟,更快地估測模型或其他某些附件的抗干擾能力。這些干擾可能來(lái)自以下渠道:
       a.系統的其他部分(系統內部的電磁干擾),這些部分未被作為系統的整體加以處理。
       b.特定類(lèi)型的環(huán)境干擾。對模型進(jìn)行測試必須依據一套限定的標準,并要在輻射測試完成后,搞清其不符合規范的地方。
       注意:在這些測試中,要在合理的范圍內盡量達到被測設備實(shí)際的敏感度門(mén)限,這是為了得到與抗干擾能力相適應的兼容范圍。
       一、測試場(chǎng)合的最低要求
       正規的敏感度測試對場(chǎng)合的要求除了對射頻環(huán)境的要求有所不同外,基本上與輻射測試要求相同:
       射頻環(huán)境的考慮。這里不需要干凈的射頻環(huán)境。恰恰相反,在敏感性測試過(guò)程中需要發(fā)射強高頻或脈沖干擾,這可能會(huì )干擾系統周?chē)钠渌O備。因此明智的做法是在離測試系統5m以?xún)鹊姆秶鷥韧V故褂妹舾行噪娮釉O備,如測試儀器(用EMC測試儀器的除外)、計算機、辦公室設備、示波器等。
       電源線(xiàn)的濾波和隔離?;谏鲜鱿嗤脑?,建議對待測設備的電源電路進(jìn)行濾波,如果有可能的話(huà)可以進(jìn)行隔離。曾在輻射測試使用的LISN,可與隔離變壓器一起用在此處。
測試接地板與輻射測試的要求相似(ESD測試中的間接靜電放電除外,它可能需要一組不同的金屬平板)。
       二、傳導敏感性測試的準備工作
       對于所有的敏感性或抗干擾性實(shí)驗,都需要將待測設備設置在自動(dòng)工作(最好自成回路)模式,這樣被測設備處在連續的正常工作狀態(tài)。這可以通過(guò)使用一種自測試模式或特殊的仿真軟件來(lái)實(shí)現:
       1、連續運行被測設備電路,盡可能的仿真其在沒(méi)有操作者干預情況下的、真正的工作狀態(tài)。
       2、能由以下方法清楚的指示一個(gè)誤操作:顯示一個(gè)措施數據、打印一個(gè)報告、復位或死鎖、激活一個(gè)發(fā)光二極管或一個(gè)蜂鳴器等。
       三、瞬時(shí)脈沖干擾
       在所有的EMC實(shí)驗中,瞬時(shí)脈沖干擾測試系統的搭建是最簡(jiǎn)單、運行最容易、最有意義的實(shí)驗之一。由于其頻譜范圍寬,從乾和茲覆蓋到至少60MHz,用它能測試出大多數數字設備和模擬設備在電磁兼容方面的缺陷。脈沖的包絡(luò )可能被邏輯電路誤認為一系列有效的比特,而單個(gè)的窄脈沖會(huì )觸發(fā)對邊沿敏感的門(mén)電路。對于模擬電路,脈沖包絡(luò )能被靈敏的放大器檢測到,這與脈沖調制的載波干擾相似。
       因為它相當于模擬來(lái)自附近電源設備的開(kāi)關(guān)瞬態(tài)過(guò)程(觸點(diǎn)重復動(dòng)作等)的耦合,根據IEC801-4或1000-4-4的規范,此實(shí)驗不僅適用于電源電纜上,也適用于任何信號/控制電纜上。
       測試儀器和系統搭建:
       A.瞬變脈沖群發(fā)生器遵從相關(guān)標準
       B.使用一個(gè)容性耦合夾或30-50cm寬的鋁箔
       由于在電源線(xiàn)上疊加了高頻脈沖,所以瞬變脈沖群發(fā)生器包含了一個(gè)與LISN相似的高通耦合/去耦網(wǎng)絡(luò ),這樣被測設備的電源線(xiàn)可直接連接到發(fā)生器的電源輸出。瞬時(shí)脈沖的注入在發(fā)生器內部完成。注入脈沖必須是加在導線(xiàn)與接地板之間,是共模信號。如果發(fā)生器內沒(méi)有這樣合適的交流耦合網(wǎng)絡(luò ),或者如果EUT電源線(xiàn)無(wú)法連接發(fā)生器的輸出插座上,則可以選擇使用容性耦合夾注入的方式。
       四、ESD測試
       ESD是引發(fā)EUT故障的主要因素之一。ESD不僅覆蓋極寬的頻譜范圍,而且當以傳導方式耦合時(shí)會(huì )產(chǎn)生極強的電磁場(chǎng)。與主要通過(guò)在電纜上施加干擾的EFT測試過(guò)程相比,ESD測試能夠暴露出機箱屏蔽層和PCB外層的不足。從某種意義上講,這是將在真正的RF測試中原本要半小時(shí)才能完成的較寬的頻譜范圍的測試過(guò)程一下縮短到只需100ns.
       所用儀器:靜電放電發(fā)生器、場(chǎng)耦合金屬板(如果EUT必須進(jìn)行間接esd測試)
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