EMC測試是指除經(jīng)典的EMC測試之外,對設備、系統工作性能存在潛在影響的干擾的測試。
這里的干擾的產(chǎn)生并不像經(jīng)典測試中所測量的那樣,相對較為直觀(guān)容易為人們所觀(guān)察和理解,這里所面對的干擾更多是在設備工作中由設備內部非線(xiàn)性、工藝問(wèn)題等原因引起的。
其具體內容包括頻率特性測試、屏蔽效能測試、EMI濾波器安全性測試、天線(xiàn)隔離度測試、接收機的互調傳導敏感度測試、交調傳導敏感度測試、三階及無(wú)源互調產(chǎn)物測試、空間微放電現象測試等。
1、頻率特性測試
頻率特性測試是指對無(wú)線(xiàn)電發(fā)射信號的頻譜特性,包括對發(fā)送信號的頻率及其穩定度、發(fā)送信號帶寬、功率以及信號接收通路的各種響應進(jìn)行測試。
它區別于干擾發(fā)射測試,因為后者注重的是除工作頻率外的發(fā)射。
1)發(fā)射機的測試。頻率特性測試可通過(guò)輻射場(chǎng)方式進(jìn)行,也可通過(guò)閉合回路的傳導方式進(jìn)行。前者將發(fā)射機與測試接收機直接連接,利用頻譜分析儀測量數據;后者一般在暗室里進(jìn)行,在一定距離上利用天線(xiàn)組合頻譜儀測試。
2)接收機靈敏度的測試
被測試接收機置于工作狀態(tài)的調制模式,將其調諧至標準試驗頻率,通過(guò)改變調制頻率(對調頻、調幅接收機等)、射頻頻率(對單邊帶接收機)或本振頻率(超外差接收機),使接收機載波輸出(信號+噪聲)最大(接收機工作在最佳狀態(tài)),然后改變輸入電平,使其產(chǎn)生標準響應,記錄此時(shí)的最小電平。對于調制系統還應引入一個(gè)未調制信號,改變此信號的輸入電平和頻率,使其在接收機音頻輸出端產(chǎn)生20dB的靜噪,記錄此時(shí)的最小輸入電平。對于脈沖調制接收機則需注意在給定脈沖寬度、脈沖重復頻率等特定情況下的最大、最小靈敏度極限值。
2、屏蔽效能測試
1)電纜測試
電纜測試是測量射頻泄露的量。測試前應注意匹配阻抗問(wèn)題,電纜要與測試儀器實(shí)現匹配以免因失配引起測試的不可靠問(wèn)題。
2)機箱屏蔽測試
機箱由于留有裝配界縫、散熱孔、安裝調節軸、表頭等的開(kāi)洞、電纜的引出孔等原因,都會(huì )產(chǎn)生電磁泄露從而降低屏蔽效能。但通過(guò)合理設計可使效能降低達到可接受水平。而對于屏蔽效能的測試就是檢測這項設計是否合理可行的依據。
3、天線(xiàn)耦合度測試
測試是用來(lái)衡量天線(xiàn)間相互作用的程度。由于天線(xiàn)輻射的非理想化以及交叉極化的產(chǎn)生,因此天線(xiàn)間會(huì ) 出現不希望的功率耦合。
4、EMI濾波器測試
EMI濾波器由于其功能的特殊,要求在測量時(shí)須注意以下幾點(diǎn):安全性參數測試,如漏電流、試驗電壓、絕緣電阻、放電電阻等;電流加載進(jìn)行插入損耗測試;插入損耗與濾波器端接阻抗、負載相關(guān),檢測時(shí)應按標準設置。
5、互調性能測試
互調是指當兩個(gè)或多個(gè)頻率的輸入信號同時(shí)進(jìn)入接收系統前端時(shí),由于系統的非線(xiàn)性(這里的非線(xiàn)性不一定只限定在非線(xiàn)性設備如檢波器,有些設備在輸入功率較強時(shí)也會(huì )工作在非線(xiàn)性區),在射頻放大器的任一級或混頻器中混頻,使得輸出信號除原有頻譜外還有新的頻率分量。
互調測試主要是測試儀器的互調敏感度,即通信接收機、射頻放大器、無(wú)線(xiàn)電收發(fā)信機、雷達接收機、聲納接收機以及電子對抗設備接收機等對互調產(chǎn)物的抗擾能力。
在EMC的互調干擾測試領(lǐng)域,首先計算出可能在接收機內產(chǎn)生的干擾信號及諧波的差頻。接下來(lái)要確定的是標準參考輸出電平,即指在被測設備正常工作時(shí)的輸出值。一般用(信號/噪聲)/噪聲來(lái)表示。當設備工作于非正常狀態(tài)時(shí)期標準參考輸出由相應規范給出。測量時(shí)確定互調產(chǎn)物極限,用高于標準參考輸出電平的分貝數表示。當輸入電平高于標準參考電平某一值時(shí)接收機進(jìn)入非線(xiàn)性區,則這個(gè)值確定為接收機非線(xiàn)性工作點(diǎn)。
6、交調傳導敏感度測試
交調是指一個(gè)足夠強的無(wú)用信號進(jìn)入接收機,由于非線(xiàn)性器件的存在,會(huì )使得接收機的有用信號受到干擾,產(chǎn)生寄生調制。這種干擾存在的條件是干擾信號有一定強度,即只要干擾信號有一定強度就存在干擾。
7、無(wú)源互調產(chǎn)物測試
無(wú)源互調是指由無(wú)源器件的固有非線(xiàn)性導致的互調產(chǎn)物。一般的PIM現象是由于電流流過(guò)非線(xiàn)性部件產(chǎn)生的。其產(chǎn)生機理復雜,與材料性質(zhì)、結構、通道加載、系統裝配工藝相關(guān)。
8、空間微放電現象測試
微放電現象是指在真空條件下,電子在強微波電場(chǎng)加速下,在金屬表面之間產(chǎn)生的二次電子倍增現象,即在傳輸微波大功率的無(wú)源部件中出現的一種射頻擊穿現象。這種現象主要是由于設計不當、加工工藝、表面處理、材料、污染等因素引起,當功率、頻率和部件內部結構縫隙尺寸滿(mǎn)足一定關(guān)系時(shí)出現的。
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