EMC--電磁兼容測試介紹
EMC全稱(chēng)Electro-Magnetic Compatibility。指的是設備或系統在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構成不能承受的電磁騷擾的能力。EMC是評價(jià)產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要指標。
EMC測試包括:
(1)EMI(Electro-Magnetic Interference)---電磁騷擾測試
此測試之目的為:檢測電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
(2)EMS(Electro-Magnetic Susceptibility)---電磁抗擾度測試
此測試之目的為:檢測電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩定工作,不受影響。
其中EMI包括:
(1) 輻射騷擾測試(RE)---測試標準:EN55022
(2) 傳導騷擾測試(CE)---測試標準:EN55022
(3) 諧波電流測試(Harmonic)---測試標準:EN 61000-3-2
(4) 電壓變化與閃爍測試(Flicker)---測試標準:EN 61000-3-3
EMS包括:
(1) 靜電放電抗擾度測試(ESD)---測試標準:EN6100-4-2
(2) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(RS)---測試標準:EN61000-4-3
(3) 射頻場(chǎng)感應的傳導騷擾抗擾度(CS)---測試標準:EN61000-4-6
(4) 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試(EFT)---測試標準:EN61000-4-4
(5) 浪涌(沖擊)抗擾度(SURGE)---測試標準:EN61000-4-5
(6) 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測試(DIP)---測試標準:EN61000-4-11
(7) 工頻磁場(chǎng)抗擾度測試(PFMF)---測試標準:EN61000-4-8
手機進(jìn)網(wǎng)預測試中涉及到的EMC測試項目
上面就一般電器產(chǎn)品的EMC測試項目做了一些說(shuō)明,本節主要介紹手機在進(jìn)網(wǎng)測試中所需進(jìn)行的EMC測試。
EMI方面:
(1) 輻射連續騷擾(RE)---測試標準:GB9254
(2) 傳導連續騷擾(CE)---測試標準:GB9254
(3) 輻射雜散騷擾(SE(R))---測試標準:YD1032
(4) 傳導雜散騷擾(SE(C))---測試標準:YD1032
EMS方面:
(1) 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試(EFT):GB/T 17626.4-1998
(2) 靜電放電抗擾度(ESD):GB/T 17626.2-1998
(3) 浪涌(沖擊)抗擾度(SURGE):GB/T 17626.5-1998
(4) 射頻場(chǎng)感應的傳導騷擾抗擾度(CS):GB/T 17626.6-1998
(5) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(RS):GB/T 17626.3-1998
(6) 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度(DIP):GB/T 17626.11-1998
輻射與傳導的區別:
輻射:
物體都以電磁波的形式時(shí)刻不停地向外傳送能量,這種傳送能量的方式稱(chēng)為輻射。物體通過(guò)輻射所放出的能量,稱(chēng)為輻射能,簡(jiǎn)稱(chēng)輻射。
傳導:
通過(guò)某種實(shí)物連接而產(chǎn)生的能量傳遞。
連續騷擾:
對一個(gè)特定設備的效應不能分解為一串能清晰可辨的效應的電磁騷擾。
輻射連續騷擾也可稱(chēng)為輻射騷擾或者輻射干擾即RE,其測試目的為判斷手機自身所輻射出電磁能量的強度。輻射騷擾超標的產(chǎn)品可能使設備或系統性能劣化或者對生物和非生物起不良反映。
傳導連續騷擾也可稱(chēng)為傳導騷擾或者傳導干擾即CE。一般來(lái)說(shuō)此項測試目的在于檢測連接到城市公共供電網(wǎng)絡(luò )的手機對于公共電網(wǎng)的影響。
其中雜散(Spurious Emissions)項目是針對手機而特別提出的。所謂雜散即必要帶寬以外頻率發(fā)射(并且不包括由調制過(guò)程產(chǎn)生的必要帶寬以外頻率的發(fā)射)。
雜散騷擾:
除載頻和與正常調制相關(guān)的頻帶以外離散頻率上的騷擾??梢苑譃閭鲗Ш洼椛鋬煞N(此處傳導與輻射的測試目的與RE和CE類(lèi)似)。因此在EMI中有兩條有關(guān)手機雜散的測試項。
SE(R)測試:
電臺裝有天線(xiàn)在輻射試驗場(chǎng)測得的雜散窄帶射頻分量。它包括諧波和非諧波分量及寄生分量。此項測試即測試其雜散窄帶射頻分量大小。
SE(C)測試:
在有匹配負載的天線(xiàn)端測得的雜散射頻分量。其特征通常是在離散頻率上或窄頻帶內有一顯著(zhù)的分量,它包括諧波和非諧波分量以及寄生分量,不包括為傳輸信息的必要頻帶極近處的分量。此項測試即檢測手機在被測頻段內產(chǎn)生的諧波和非諧波分量以及寄生分量。
EFT測試:
這是一種耦合到電子設備的電源線(xiàn)、控制線(xiàn)和信號線(xiàn)上的,且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗。試驗的要素是瞬變的上升時(shí)間、重復率和能量。
ESD測試:
模擬手機在遭受到靜電放電時(shí)性能是否會(huì )下降或失效,放電分為直接放電和間接放電兩類(lèi)。對導電表面采用直接接觸放電的方式;對絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為首選形式,只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層,手機鍵盤(pán)縫隙等情況)才改用空氣放電。
SURGE測試:
測試手機電源線(xiàn)和內部連接線(xiàn)在經(jīng)受來(lái)自開(kāi)關(guān)切換及自然界雷擊后是否會(huì )影響到其各項功能的一種測試。
CS測試:
在通常情況下,被干擾設備的尺寸要比干擾頻率的波長(cháng)短得多,而設備的引線(xiàn)(包括電源線(xiàn)、通信線(xiàn)和接口電纜等)的長(cháng)度則可能與干擾頻率的幾個(gè)波長(cháng)相當,這樣,這些引線(xiàn)就可以通過(guò)傳導方式(最終以射頻電壓和電流所形成的近場(chǎng)電磁騷擾在設備內部)對設備產(chǎn)生干擾。此項測試目的即評價(jià)電氣和電子設備對由射頻場(chǎng)感應所引起的傳導騷擾的抗擾度。
RS測試:
射頻輻射電磁場(chǎng)對設備的干擾往往是由設備操作、維修和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話(huà)時(shí)所產(chǎn)生的,其他如無(wú)線(xiàn)電臺、電視發(fā)射臺、移動(dòng)無(wú)線(xiàn)電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射),以及電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無(wú)意發(fā)射),也都會(huì )產(chǎn)生射頻輻射干擾。此項測試目的是建立一個(gè)共同的標準來(lái)評價(jià)電氣和電子設備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。
DIP測試:
電壓瞬時(shí)跌落、短時(shí)中斷是由電網(wǎng)、變電設施的故障或負荷突然出現大的變化所引起的。在某些情況下會(huì )出現兩次或更多次連續的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續變化引起的。此項測試模擬電壓的突變效應,以便建立一種評價(jià)電氣和電子設備在經(jīng)受這種變化時(shí)的抗擾性通用準則
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