5月28-29日在北京參加集成電路電磁兼容標準工作組會(huì )議(第一次會(huì )議)。工作組下屬于全國半導體器件標準化技術(shù)委員會(huì )集成電路分技術(shù)委員會(huì )（SAC/TC78/SC2）。

       工作組組長(cháng)崔強，副組長(cháng)方文嘯（廣州賽寶），副組長(cháng)吳建飛（天津濱海軍民融合研究院）。會(huì )議主要探討了集成電路電磁兼容標準國內現狀及國際最新進(jìn)展以及測試技術(shù)，特別提到標準中可能會(huì )取消近場(chǎng)掃描法。工作組期望制定一個(gè)推薦標準，為芯片制造商在芯片設計制造中提供對芯片進(jìn)行電磁兼容測試方法，并不要求測試等級和判定等級。芯片廠(chǎng)商和芯片使用方對芯片的電磁兼容測試并不是完全的支持，更在意芯片在電路中的電磁兼容性，而不是僅僅局限于芯片自身（可能更關(guān)心芯片的材料、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)、電學(xué)等）。

       會(huì )議期間，工作組討論了 國家標準GB/T XXXXX.1《集成電路電磁發(fā)射測量第1部分：通用條件和定義》（工作組討論稿）和國家標準GB/T XXXXX.1 《集成電路電磁抗擾度測量第1部分：通用條件和定義》（工作組討論稿）。